Nanometer Technology Designs High-quality Delay Tests

٩٬٠٩٠٫٠٠ E£
+ ١٬٧١٩٫٤٩ E£ الشحن

Nanometer Technology Designs High-quality Delay Tests

البائع:

٩٬٠٩٠٫٠٠ E£

في المخزون
+ ١٬٧١٩٫٤٩ E£ الشحن

سياسة الإرجاع لمدة 14 يوما

طرق الدفع:


تفاصيل المنتج

تفاصيل المنتج

Nanometer Technology Designs High-quality Delay Tests

Supply Noise (including Ir-drop, Ground Bounce, And Ldidt) Effects On Chip Performance, High Test Pattern Volume, Low Faultdefect Coverage, Small Delay Defect Test Pattern Generation, High Cost Of Test Implementation And Application, And Utilizing Low-cost Testers Are Among These Challenges.
  • العلامة التجارية: Springer Nature B.V
  • الفئة: الحاسبات والإنترنت
  • حَجْم: Hardcover
  • اللغة: English
  • المؤلف: Mohammad Tehranipoor
  • عدد الصفحات: 304
  • تاريخ النشر: 2008-01-16
  • الناشر/ العنوان: Springer Nature B.V
  • هوية Fruugo: 550925722-1115603932
  • ISBN: 9780387764863
التوصيل

توصيل

يُرسل خلال 24 ساعة

  • STANDARD: ١٬٧١٩٫٤٩ E£ - التسليم بين الاثنين 02 نوفمبر 2026 – الاثنين 30 نوفمبر 2026

يُشحن من المملكة المتحدة.

الإرجاع

الإرجاع

نحن نبذل قصارى جهدنا لضمان أن تصلك المنتجات التي تطلبها بالكامل وطبقاً المواصفات التي حددتها. إلا أنه في حال تلقيك طلب غير كامل أو أغراض تختلف عن تلك التي طلبتها أو كان هناك سبب آخر يدعوك لعدم الرضاء عن الطلب، فيمكنك رد الطلب أو أي منتجات يتضمنها الطلب واسترداد ما دفعته من أجل تلك الأغراض بالكامل.

عرض سياسة الرد الكاملة