Quantitative Measurements Of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy Afm - Qua

٤٬٦٩٩٫٠٠ E£
+ ١٬٦٢٦٫٩٩ E£ الشحن

Quantitative Measurements Of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy Afm - Qua

البائع:
  • product image

٤٬٦٩٩٫٠٠ E£

في المخزون
+ ١٬٦٢٦٫٩٩ E£ الشحن

سياسة الإرجاع لمدة 14 يوما

طرق الدفع:

تفاصيل المنتج

تفاصيل المنتج

Quantitative Measurements Of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy Afm - Qua

The Atomic Force Microscope (afm) Was Originally Utilised For Its Imaging Capabilities. The Full Potential Of The Afm As A Three-dimensional Force Profiling Instrument Is Only Now Being Realised In An Increasingly Broad Range Of Fields. One Of The Key Requirements For Afm Measurements Is The Quantification Of Both In-plane And Out-of-plane Forces Acting Between The Tip And The Sample.
  • هوية Fruugo: 557246231-1125516060
  • ISBN: 9783639024616
التوصيل

توصيل

يُرسل خلال 24 ساعة

  • STANDARD: ١٬٦٢٦٫٩٩ E£ - التسليم بين الثلاثاء 17 نوفمبر 2026 – الثلاثاء 15 ديسمبر 2026

يُشحن من المملكة المتحدة.

الإرجاع

الإرجاع

نحن نبذل قصارى جهدنا لضمان أن تصلك المنتجات التي تطلبها بالكامل وطبقاً المواصفات التي حددتها. إلا أنه في حال تلقيك طلب غير كامل أو أغراض تختلف عن تلك التي طلبتها أو كان هناك سبب آخر يدعوك لعدم الرضاء عن الطلب، فيمكنك رد الطلب أو أي منتجات يتضمنها الطلب واسترداد ما دفعته من أجل تلك الأغراض بالكامل.

عرض سياسة الرد الكاملة