Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

١١٬٢٩٠٫٠٠ E£
+ ٢٬٠١٦٫٩٩ E£ الشحن

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

  • product image

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

السعر: ١١٬٢٩٠٫٠٠ E£
البائع:
١١٬٢٩٠٫٠٠ E£
+ ٢٬٠١٦٫٩٩ E£ الشحن

في المخزون

نقبل وسائل الدفع الآتية

الوصف

This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology it assumes no reliability education or experience.
  • العلامة التجارية: John Wiley & Sons Inc
  • الفئة: الحاسبات والإنترنت
  • حَجْم: Hardback
  • اللغة: English
  • المؤلف: Alvin W. Strong (IBM)
  • عدد الصفحات: 640
  • تاريخ النشر: 2023-03-22
  • الناشر/ العنوان: John Wiley & Sons Inc
  • هوية Fruugo: 434363568-911570901
  • ISBN: 9780471731726

التسليم والرد

يُرسل خلال ٦ أيام

  • STANDARD: ٢٬٠١٦٫٩٩ E£ - التسليم بين الجمعة 12 ديسمبر 2025 – الخميس 01 يناير 2026

يُشحن من المملكة المتحدة.

نحن نبذل قصارى جهدنا لضمان أن تصلك المنتجات التي تطلبها بالكامل وطبقاً المواصفات التي حددتها. إلا أنه في حال تلقيك طلب غير كامل أو أغراض تختلف عن تلك التي طلبتها أو كان هناك سبب آخر يدعوك لعدم الرضاء عن الطلب، فيمكنك رد الطلب أو أي منتجات يتضمنها الطلب واسترداد ما دفعته من أجل تلك الأغراض بالكامل. عرض سياسة الرد الكاملة